深入了解下微區(qū)電化學(xué)掃描顯微鏡的技術(shù)原理

　　微區(qū)電化學(xué)掃描顯微鏡是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測(cè)量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測(cè)量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線(xiàn)性或面掃描,研究局部腐蝕(如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等),表面涂層及緩蝕劑的評(píng)價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針(SVET)是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測(cè)小于5uA/cm2的原位腐蝕。
 

　　微區(qū)電化學(xué)掃描顯微鏡為表面科學(xué)測(cè)量提供了一個(gè)新的途徑，開(kāi)爾文探針是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓可以測(cè)量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。
 

　　微區(qū)電化學(xué)掃描顯微鏡的應(yīng)用：
 

　　不銹鋼和鋁等材料的點(diǎn)蝕檢測(cè)、成長(zhǎng)過(guò)程在線(xiàn)監(jiān)測(cè)等；
 

　　有機(jī)和金屬涂層缺陷和完整性研究；
 

　　金屬/有機(jī)涂層界面的腐蝕的機(jī)制與檢測(cè)；
 

　　有機(jī)涂層的剝離和脫落機(jī)制；
 

　　鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區(qū)的電位分布；
 

　　干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區(qū)和陽(yáng)極區(qū)的分布行為；
 

　　薄液層下氧還原反應(yīng)和金屬的腐蝕過(guò)程的特征；
 

　　模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線(xiàn)監(jiān)測(cè)；
 

　　鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性。